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Etude de l’influence des états d’interfaces du grain sur la durée de vie effective des porteurs de charge dans une photopile au silicium polycristallin



Auteur(s) : R. Sam, M. Zoungrana, F. I. Barro, I. Gueye, A. Wereme, G. Sissoko
Année de publication : 2011
Type : Article
Mise en ligne par : BARRO Fabé Idrissa