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Giant optical field enhancement in multidielectric stacks by photon scanning tunneling microscopy

Dans cet article on s’intéresse maintenant à la mesure des résonances en utilisant la technique de microscopie optique en champ proche Le fonctionnement du dispositif utilisé dans cet article tiré du chapitre VII de la thèse repose sur le même principe que les microscopies à sonde locale où une sonde de taille nanométrique vient se positionner au voisinage immédiat d’un échantillon à étudier. Ce type de configuration a permis de détecter les plasmons de surface excités par résonance à la surface d’un métal déposé sur un prisme en configuration de Kretschmann. Cette technique nous a permis donc d’observer le champ évanescent appliqué à la surface de l’échantillon en fonction de la distance pointe-échantillon. Le composant est ensuite éclairé par un laser He-Ne à 633 nm polarisé en mode TE à l’angle de résonance theta0 =45°, conditions requises pour engendrer l’exaltation dans l’empilement défini au préalable. Le déplacement transversal (en z) de la pointe permet ainsi de mesurer le champ au voisinage du substrat. Notons que les mesures ont été réalisées en partant du contact (distance pointe-échantillon la plus petite où z = 0) et en éloignant la pointe de la surface.


Auteur(s) : C. Ndiaye, M. Zerrad, A. L. Lereu, R. Roche, Ph. Dumas, F. Lemarchand, and C. Amra
Pages : 131102-1 à 131102-4
Année de publication : 2013
Revue : Applied Physics Letters
N° de volume : 103
Type : Article
Mise en ligne par : NDIAYE Césaire Ngor